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摘要:
通过三项试验,找到了CCD摄像机组件靶面脏斑形成的原因.潮湿的自然环境、温度变化和运输振动三个因素促成CCD组件机壳内的水汽吸附灰尘,凝聚到芯片靶面上形成脏斑.提出了解决脏斑问题的具体方法.通过在CCD组件的装配、包装过程中采取针对性措施来保证密封性能,这样就能在存储和运输过程中避开空气中的灰尘、水汽等脏斑源,靶面上就不会因受潮而产生脏斑.采取这些措施后,在后续产品中脏斑问题得到了彻底解决.
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内容分析
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文献信息
篇名 CCD组件靶面脏斑成因分析及解决方法
来源期刊 半导体光电 学科 工学
关键词 CCD 脏斑 试验
年,卷(期) 2010,(2) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 260-262
页数 分类号 TN386.5
字数 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 吴琼瑶 7 21 1.0 4.0
2 邓艳红 4 13 2.0 3.0
3 郑渝 8 21 3.0 4.0
4 杨亚生 5 28 2.0 5.0
5 熊明昌 2 0 0.0 0.0
6 周旭东 13 36 4.0 5.0
7 陈林 6 34 3.0 5.0
传播情况
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2010(0)
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研究主题发展历程
节点文献
CCD
脏斑
试验
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
半导体光电
双月刊
1001-5868
50-1092/TN
大16开
重庆市南坪花园路14号44所内
1976
chi
出版文献量(篇)
4307
总下载数(次)
22
总被引数(次)
22967
论文1v1指导