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摘要:
CMOS尺寸按摩尔定律不断等比缩小已有40多年了.照这样一年一年地不断提高器件性能也已越来越困难.为此,需利用新材料作为集成元件以提高晶体管的驱动电流.在Si衬底上沉积外延材料成为提高晶体管性能的重要因素.在PMOS中选择性地生长SiGe薄膜以"用作"源/漏单轴应变工程,而选择性地生长Si用于DRAM是降低寄生电阻的一个方法.
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篇名 微/光电子应用的Ⅳ族外延材料所用前体
来源期刊 现代材料动态 学科
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年,卷(期) 2010,(4) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 7-9
页数 3页 分类号
字数 语种 中文
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现代材料动态
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