基于AVR单片机的大容量存储测试系统

• 作者: 孙婷婷 沈大伟 马铁华
• 来源期刊: 传感器世界
• 学科: 工学
• 关键词: AVR单片机 闪存 大容量 复杂可编程逻辑器件(CPLD)
• 年，卷（期）: 2010,（6）
• 所属期刊栏目: 信号与系统
• 页码范围: 27-29
• 分类号: TN710
• 字数: 1659字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-883X.2010.06.008

摘要

介绍了一种基于AVR单片机的大容量采集存储测试系统.详细介绍了测试系统的工作流程、器件的选择、测试系统的软硬件电路设计等.测试系统使用AVR单片机和复杂可编程逻辑器件(CPLD)对大容量闪存进行控制,充分利用了CPLD的高速和微控单元(MCU)控制灵活的特点,实现了对闪存的读、写、擦操作以及与上位机通信的控制.采用大容量的闪存芯片存储数据,使得测试系统在突然失去电源的情况下依然能够保持测试所得的数据,以便于回收后准确的显示所记录的数据以供分析,实现了代码和数据的固态存储.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	沈大伟	中北大学仪器科学与动态测试教育部重点实验室	50	228	7.0	13.0
2	马铁华	中北大学仪器科学与动态测试教育部重点实验室	194	1323	17.0	27.0
3	孙婷婷	中北大学仪器科学与动态测试教育部重点实验室	2	6	2.0	2.0