微波暗室有限测试距离对天线远场测量的影响

• 作者: 何洪涛 王向阳 郑星 高向东
• 来源期刊: 电讯技术
• 学科: 工学
• 关键词: 天线 远场测量 微波暗室 测试距离 误差模型
• 年，卷（期）: 2010,（5）
• 所属期刊栏目: 基础技术
• 页码范围: 104-107
• 分类号: TN98
• 字数: 2747字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-893x.2010.05.023

摘要

利用电磁场和误差分析理论,在阐述天线远场测量条件的基础上,分析了微波暗室有限测试距离对天线远场测量的影响,建立了误差模型,并结合实例说明了微波暗室有限测试距离对天线场强测量、增益测量的影响.分析结论可为实践中快速准确地确定适合在微波暗室内进行测量的天线尺寸和频率范围提供具体的技术指导.