一种典型阵形畸变对双线阵声纳左右舷分辨性能的影响

• 作者: 孙贵青 张宾
• 来源期刊: 电子学报
• 学科: 工学
• 关键词: 阵形畸变 双线阵声纳 左右舷分辨 左右舷抑制增益 特征方位 特征频率
• 年，卷（期）: 2010,（10）
• 页码范围: 2383-2388
• 分类号: TB56
• 语种: 中文

摘要

阵形畸变对双线阵左右舷分辨性能有重要影响.本文针对一种典型的张角畸变展开深入分析.首先设定了畸变量,推导出左右舷抑制增益关于该畸变量的函数关系,进而分析该畸变量对双线阵声纳左右舷分辨两个重要性能指标--特征方位和特征频率的影响,同时对于两种常用的左右舷分辨方法在此种畸变情况下的性能也进行了深入讨论.仿真结果显示,此种畸变严重抑制了正横方位的左右舷分辨性能,甚至会形成误判,并且基于时延估计的左右舷分辨方法和基于双线阵指向性的常规方法都将产生较大误差,需校正后才能应用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙贵青	中国科学院声学研究所	17	219	9.0	14.0
2	张宾	青岛科技大学信息科学技术学院	5	47	4.0	5.0