线缺陷对二维四方圆柱形介质光子晶体禁带的影响

• 作者: 孙家兆 邢怀中
• 来源期刊: 红外与毫米波学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 光子晶体 光子禁带 平面波展开法 缺陷层
• 年，卷（期）: 2010,（5）
• 页码范围: 389-391
• 分类号: O734
• 字数: 1678字
• 语种: 中文

摘要

利用平面波展开方法研究了二维四方格子圆柱形介质光子晶体中线缺陷对光子禁带的影响.结果表明光子晶体中的缺陷层圆柱半径及缺陷层厚度对光子晶体禁带有显著影响.TE波的第一禁带宽度随着缺陷层半径的增加先增加后减小,禁带的中心位置随着缺陷层圆柱半径的增加而下降,禁带的数目也随着缺陷层圆柱半径的增加而明显变化.禁带的宽度随着缺陷层厚度与正常层厚度差别的增加而减小.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	邢怀中	东华大学应用物理系	14	45	5.0	5.0
2	孙家兆	东华大学应用物理系	1	5	1.0	1.0