基于PIPA技术的固体推进剂无损检测研究

• 作者: 任宁莉 张彦伟 赵新强 麻燕南
• 来源期刊: 固体火箭技术
• 学科: 航空航天
• 关键词: 光致正电子湮灭分析 固体推进剂 无损探伤 S因子
• 年，卷（期）: 2010,（5）
• 页码范围: 590-593
• 分类号: V512
• 字数: 3073字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-2793.2010.05.025

摘要

针对国内现有无损探伤方法无法检测固体推进剂微观缺陷的情况,引入光致正电子湮灭分析方法,即PIPA(Photon Induced Positron Annihilation).该方法利用加速器产生的高能光子引发的正电子与固体推进剂作用来检测其缺陷,能在固体推进剂宏观缺陷出现前检测出其微观结构的变化.介绍了PIPA原理,并通过试验讨论了温度、拉伸速率及推进剂的力学性能等因素对利用PIPA进行固体推进剂探伤结果的影响,所得结论与固体推进剂的常规测试具有一致性,证明了PIPA用于固体推进剂无损探伤的可行性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	任宁莉	清华大学工程物理系	4	11	2.0	3.0
3	赵新强		3	14	2.0	3.0
4	麻燕南		3	5	2.0	2.0
7	张彦伟		1	2	1.0	1.0