反辐射导引头测试环境误差分析

• 作者: 易红樱 王开斌
• 来源期刊: 航天电子对抗
• 学科: 工学
• 关键词: 反辐射导引头 测角特性 暗室测试 误差分析
• 年，卷（期）: 2010,（6）
• 页码范围: 20-21,60
• 分类号: TJ765.4
• 字数: 1549字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-2421.2010.06.007

摘要

对于干涉仪体制的反辐射导引头,测试环境的好坏对其性能的正确评价具有非常大的影响.为了得到准确的测试结果,采用暗室测试,并在此基础上分析测试环境误差,如偏心距离、等相位面波动等对导引头测角特性的影响,分别给出了理论分析与仿真结果.所得结果为干涉仪体制反辐射导引头的工程测试和性能评估提供了理论依据,对完善导引头测试条件具有一定的意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王开斌	中国航天科工集团二院二十五所	6	13	2.0	3.0