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摘要:
针对不同精度平晶的测量要求,介绍了3种平晶平面度的测量方法.阐述了比较测量的原理以及测量精度的局限性.对于高精度平晶的检测,介绍了2种绝对测量的方法.对这2种方法编制了模拟程序和数据处理程序,并进行了实验.不同方法的测试结果符合较好,面形评价数据在相同数量级上,验证了测试方法的可行性,实现了无参考面的高精度测量.
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文献信息
篇名 平晶平面度测量方法的研究
来源期刊 计量学报 学科 工学
关键词 计量学 光学测量 平面度 Fritz三面互检法
年,卷(期) 2010,(z2) 所属期刊栏目 几何量计量
研究方向 页码范围 204-207
页数 分类号 TB921
字数 1819字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1000-1158.2010.z2.50
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 陈磊 南京理工大学电子工程与光电技术学院 133 991 16.0 23.0
2 孙佳媛 3 5 2.0 2.0
3 徐晨 中国科学院国家天文台南京天文光学技术研究所 8 29 3.0 5.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
计量学
光学测量
平面度
Fritz三面互检法
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
计量学报
月刊
1000-1158
11-1864/TB
大16开
北京1413信箱
2-798
1980
chi
出版文献量(篇)
3549
总下载数(次)
8
总被引数(次)
20173
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