基于STM32的全相位FFT相位差测量系统

• 作者: 于海滨 刘敬彪 邱良丰
• 来源期刊: 电子器件
• 学科: 工学
• 关键词: 相位测量 STM32 全相位FFT 仿真测试
• 年，卷（期）: 2010,（3）
• 页码范围: 357-361
• 分类号: TP23
• 字数: 2998字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-9490.2010.03.023

摘要

针对军用和民用工程领域信号相位差测量的需要,基于全相位测量理论,使用ARM公司的高性能32Bit CortexM32内核处理器STM32F103,设计并制作了一个低成本,结构简单,处理速度快而有效的相位差测量系统,通过采样了127个点,处理后做64个点的FFT,实现了信号相位差的测量.测试结果表明有效分辨精度为1度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	于海滨	杭州电子科技大学电子信息学院	26	198	9.0	13.0
2	刘敬彪	杭州电子科技大学电子信息学院	109	731	13.0	21.0
3	邱良丰	杭州电子科技大学电子信息学院	1	16	1.0	1.0