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摘要:
针对MEMS热膜式传感器的发展趋势和在实用化过程中存在的问题,提出了一种新型的单片电路和体硅MEMS热膜式传感器实现集成制造的嵌入式CMOS工艺技术,解决了MEMS制造工艺和CMOS集成电路工艺之间存在的兼容性问题.通过这种嵌入式CMOS工艺技术,可以实现具备最小体积、最低成本的MEMS器件.通过这种嵌入式热膜式传感器和CMOS处理电路的单片集成制造工艺,实现了一款热膜式传感器和IC放大电路的集成部件,并完成了相关基本电性能测试和传感器功能的演示验证,证明了设计的工艺路线的可行性.
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关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 体硅热膜传感器单片集成工艺的研究
来源期刊 微纳电子技术 学科 工学
关键词 微电子机械系统 体硅工艺 单片集成 温度兼容性 交叉污染
年,卷(期) 2010,(7) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 437-442,450
页数 分类号 TH703
字数 4325字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1671-4776.2010.07.009
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 邹学锋 中国电子科技集团公司第十三研究所 5 73 2.0 5.0
2 何洪涛 中国电子科技集团公司第十三研究所 9 53 4.0 7.0
3 沈路 中国电子科技集团公司第十三研究所 5 4 1.0 1.0
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2014(1)
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研究主题发展历程
节点文献
微电子机械系统
体硅工艺
单片集成
温度兼容性
交叉污染
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
微纳电子技术
月刊
1671-4776
13-1314/TN
大16开
石家庄市179信箱46分箱
18-60
1964
chi
出版文献量(篇)
3266
总下载数(次)
22
总被引数(次)
16974
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