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摘要:
虚拟仪器技术是测试领域的重要发展方向,在IC测试中也有广泛应用.传统IC测试技术主要基于传统自动化测试系统(ATE),随着IC设计和制造技术的进步,普通IC测试系统已不能满足研究和生产需要.文章介绍了一种利用虚拟仪器技术与传统IC测试系统结合的测试方案.该联合测试系统把传统测试系统、数据采集卡和分立仪器通过LabVIEW程序联合在一起.系统组成包括硬件和软件两部分,其中硬件部分由ATE系统、测试PC和示波器组成,软件使用LabVIEW程序编写,完成仪器控制、数据采集和报表生成等功能.该系统已完成了某型号数模混合电路的测试.
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文献信息
篇名 虚拟仪器与传统ATE联合测试技术研究
来源期刊 电子与封装 学科 工学
关键词 虚拟仪器 ATE 测试
年,卷(期) 2010,(5) 所属期刊栏目 封装、组装与测试
研究方向 页码范围 14-16
页数 分类号 TN407
字数 1735字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1681-1070.2010.05.004
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 陶雪峰 2 12 2.0 2.0
2 柴海峰 1 8 1.0 1.0
3 杜元勋 1 8 1.0 1.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
虚拟仪器
ATE
测试
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子与封装
月刊
1681-1070
32-1709/TN
大16开
江苏无锡市惠河路5号(208信箱)
2002
chi
出版文献量(篇)
3006
总下载数(次)
24
总被引数(次)
9543
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