作者:
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取       
摘要:
针对后栅型场致发射显示器(FED)器件介质层制作困难的问题,提出采用刻蚀型介质制作后栅型FED器件.该器件采用普通银浆制作栅极电极,以刻蚀型介质制作介质层,采用感光银浆制作阴极电极,并作为介质刻蚀的掩膜层,CNT为阴极发射材料.器件耐压测试结果表明该介质层耐压性能良好,场发射测试结果表明该器件场发射性能优良.
推荐文章
台槽刻蚀对埋栅型静电感应晶体管特性的影响
埋栅型SIT
台面刻蚀
深槽刻蚀
先台后槽
一种高性能快速关断型槽栅 MOS 器件
金属场板
巴利加优值
栅漏电容
氧化槽
一种复合栅结构IEGT器件设计
IEGT
沟槽
N型阻挡层
饱和压降
栅氧化层
槽栅结构对小尺寸MOS器件特性的影响
槽栅MOSFET
深亚微米
拐角效应
小尺寸
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
(/次)
(/年)
文献信息
篇名 刻蚀型介质后栅FED器件的研究
来源期刊 光电子技术 学科 工学
关键词 刻蚀型介质 场致发射 后栅型
年,卷(期) 2010,(4) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 266-269
页数 分类号 TN104
字数 2492字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1005-488X.2010.04.012
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 胡利勤 福州大学场致发射显示技术教育部工程研究中心 17 56 4.0 7.0
传播情况
(/次)
(/年)
引文网络
引文网络
二级参考文献  (0)
共引文献  (0)
参考文献  (5)
节点文献
引证文献  (0)
同被引文献  (0)
二级引证文献  (0)
1986(1)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(0)
1990(2)
  • 参考文献(2)
  • 二级参考文献(0)
2001(1)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(0)
2008(1)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(0)
2010(0)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(0)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
刻蚀型介质
场致发射
后栅型
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
光电子技术
季刊
1005-488X
32-1347/TN
16开
南京中山东路524号(南京1601信箱43分箱)
1981
chi
出版文献量(篇)
1338
总下载数(次)
4
总被引数(次)
7328
论文1v1指导