ADC测试中INL与THD之间的关系

• 作者: 吴俊 须自明 黄蕴
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: 码密度直方图 离散傅里叶变换 积分非线性 总谐波失真
• 年，卷（期）: 2010,（7）
• 页码范围: 7-11,47
• 分类号: TN407
• 字数: 2856字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1681-1070.2010.07.003

摘要

随着ADC测试技术的不断发展,码密度直方图技术以及采用正弦波输入的离散傅里叶变换(DFT)频域分析技术已经被广泛应用到ADC的仿真和测试分析中.相对于采用DFT进行频域分析获取ADC的动态性能的复杂性来说,采用码密度直方图的方法能简单地得到微分非线性(DNL)和积分非线性(INL)这两个静态性能指标.文章通过对一个10位ADC的行为级模型的仿真分析,阐述了总谐波失真(THD)与INL之间的内在联系,从而提出了通过对INL的测试来评估ADC的THD性能的方法,对今后ADC电路的测试和评估具有指导意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	须自明		8	26	2.0	5.0
2	吴俊		5	21	3.0	4.0
3	黄蕴		3	10	1.0	3.0