空位缺陷对PBG型THz光子晶体光纤特性的影响

• 作者: 吴杨 姜跃进 施伟华 蔡晓锋 赵岩
• 来源期刊: 光通信技术
• 学科: 工学
• 关键词: 空位缺陷 PBG型THz光子晶体光纤 带隙 泄露损耗
• 年，卷（期）: 2010,（2）
• 所属期刊栏目: 光纤光缆
• 页码范围: 24-26
• 页数: 3页
• 分类号: TN253
• 字数: 1990字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-5561.2010.02.008

摘要

研究空位缺陷对PBG型THz光子晶体光纤(PBG-TPCF)的带隙和泄漏损耗两种特性的影响.计算表明空位缺陷都使PBG-TPCF的带隙宽度减少并使中心频率不同程度地上移;最低损耗点由于带隙的移动作相应的改变,并且泄露损耗变大.通过分析空位缺陷对带隙和泄露损耗的影响,得出在包层比较多的情况下,空位缺陷离PBG-TPCF纤芯越远对PBG-TPCF的影响越小.仿真结果表明空位缺陷在PBG-TPCF包层的第5层时及外围层时对PBG-TPCF的影响将很小以至于可以忽略.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	施伟华	南京邮电大学光电工程学院	51	138	5.0	8.0
2	蔡晓锋	南京邮电大学光电工程学院	3	15	2.0	3.0
3	赵岩	南京邮电大学光电工程学院	8	36	4.0	5.0
4	吴杨	南京邮电大学光电工程学院	3	5	1.0	2.0
5	姜跃进	南京邮电大学光电工程学院	3	21	3.0	3.0