清除微带相控阵天线扫描盲点研究进展

• 作者: 刘元柱 唐明春 王秉中 肖绍球
• 来源期刊: 航空兵器
• 学科: 工学
• 关键词: 微带相控阵天线 扫描盲点 表面波
• 年，卷（期）: 2010,（3）
• 页码范围: 22-25,29
• 分类号: TN821+.8
• 字数: 2821字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-5048.2010.03.005

摘要

对微带相控阵天线中扫描盲点出现的物理机制进行了深入的分析,并讨论了其对微带相控阵扫描特性的影响.结合扫描盲点产生的必要条件,回顾总结了清除扫描盲点技术的发展概况,所涉及技术主要包括天线子阵技术、EBG技术、缺陷地技术和特异材料技术.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王秉中	电子科技大学物理电子学院应用物理所	74	719	15.0	23.0
2	唐明春	电子科技大学物理电子学院应用物理所	7	60	4.0	7.0
3	肖绍球	电子科技大学物理电子学院应用物理所	27	215	7.0	14.0
4	刘元柱	电子科技大学物理电子学院应用物理所	2	20	2.0	2.0