几种绝缘结构和绝缘材料的高频耐电晕性能分析

• 作者: 姜其斌 李强军 李鸿岩 王文进 罗艳芝
• 来源期刊: 绝缘材料
• 关键词: 绝缘结构 绝缘材料 耐电晕
• 年，卷（期）: 2010,（3）
• 页码范围: 57-59
• 分类号: TM201.44|TM206
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-9239.2010.03.015

摘要

研究了几种绝缘材料和绝缘结构的电性能,利用高频脉冲绝缘测试仪器分析比较了其耐电晕性能.结果表明:杜邦耐电晕聚酰亚胺薄膜的耐电晕性能优于国产聚酰亚胺薄膜,耐电晕聚酰亚胺薄膜绝缘结构具有较好的耐电晕性能.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	姜其斌		123	1035	15.0	26.0
2	李强军		27	291	10.0	16.0
3	李鸿岩		47	323	9.0	15.0
4	罗艳芝		2	8	1.0	2.0
5	王文进		6	112	4.0	6.0