飞行时间太赫兹断层成像

• 来源期刊: 生命科学仪器
• 学科: 工学
• 年，卷（期）: 2010,（6）
• 页码范围: 7-9
• 分类号: TH79
• 字数: 2234字
• 语种: 中文

摘要

介绍了利用超短激光脉冲的高分辨飞行时间太赫兹断层成像的发展.其基本原理足,首先非线性光学晶体获得的宽带太赫兹脉冲进入到样品,随后检测每一层反射同来的回波脉冲.利用高斯窗口的去卷积过程我们可以获得清晰、高分辨的断层成像谱图.与聚四氟乙烯薄膜机械厚度测量的结果比较,如果一个样品的折射率为n,则轴向分辨率低于10/nμm.