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摘要:
数字射线技术正获得越来越广泛的应用,并成为射线检测技术的发展趋势.但目前有关数字射线技术的标准对于图像质量控制方面的规定还相对简单,难于进行有效的质量控制,因而在实际检测中可能出现较大的随意性而影响检测结果评判.使用互补金属氧化物半导体(CMOS)线阵列射线探测器与阶梯试块进行射线检测实验,得到了不同厚度所对应的灰度图像,测试了影像对比度,同时分析了图像的信噪比和检测灵敏度.通过对实验结果的综合对比分析,提出了数字化射线检测图像质量控制措施.
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文献信息
篇名 数字化射线扫描成像中的图像评价与控制初探
来源期刊 CT理论与应用研究 学科 工学
关键词 数字化射线技术 CMOS线阵列射线探测器 图像质量
年,卷(期) 2010,(2) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 61-68
页数 分类号 O536|TP391
字数 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 王增勇 中国工程物理研究院机械制造工艺研究所 46 187 7.0 12.0
2 孙朝明 中国工程物理研究院机械制造工艺研究所 60 259 9.0 13.0
3 曾祥照 12 43 5.0 6.0
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研究主题发展历程
节点文献
数字化射线技术
CMOS线阵列射线探测器
图像质量
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
CT理论与应用研究
双月刊
1004-4140
11-3017/P
16开
北京市海淀区民族大学南路5号
1987
chi
出版文献量(篇)
1835
总下载数(次)
9
总被引数(次)
8507
论文1v1指导