以多硫、多碘化合物为缓冲剂发射光谱法测定化探样品中As、Sb、Bi、Cd、TI、In元素

• 作者: 吴建华
• 来源期刊: 甘肃地质
• 学科: 化学
• 关键词: 发射光谱 缓冲剂 加罩电极 多硫化合物 多碘化合物 化探样品
• 年，卷（期）: 2010,（1）
• 页码范围: 79-82
• 页数: 4页
• 分类号: O657.3
• 语种: 中文

摘要

本方法建立了以多硫化合物、多碘化合物为缓冲剂(液体缓冲剂),上电极为光谱纯石墨电极、下电极为光谱纯石墨加罩电极的方式,采用控制试样法绘制工作曲线,电弧发射光谱法同时测定区域地球化学样品中As、Sb、Bi、Cd、TI、In等6元素的测定方法.方法检出限为As 1.0μg/g,Sb 0.2μg/g,Bi 0.1μg/g,Cd 0.05μg/g,TI 0.1 μg/g,In0.01 μg/g;精密度(RSD,n=12)为As 8.36%,Sb 7.17%,Bi 7.60%,Cd 7.39%,T1 7.13%,In 6.76%.方法用于测定国家一级标准物质GSD-1-GSD-12中As、Sb、Bi、Cd、T1、In,测定值与标准值或参考值吻合.通过对1:50 000区域地球化学调查样品中As、Sb、Bi、Cd、TI、In实际分析,结果成图效果良好,具有简便快捷、成本低、检出限低、精度高等特点.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴建华		4	27	2.0	4.0