WCDMA和LTE系统邻频段共存性能研究

• 作者: 张欣 杨大成 王静 郑瑞明
• 来源期刊: 邮电设计技术
• 学科: 工学
• 关键词: WCDMA LTE 邻频段共存 系统间干扰 ACIR 蒙特卡罗仿真
• 年，卷（期）: 2010,（4）
• 所属期刊栏目: 无线通信
• 页码范围: 44-49
• 分类号: TN929.5
• 字数: 5870字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-3043.2010.04.011

摘要

对在同一地理区域邻频段共存的WCDMA和LTE系统进行了干扰分析.通过静态蒙特卡罗仿真法评估系统共存的性能损失.根据不同系统干扰源给出了多个干扰场景下的仿真结果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张欣	北京邮电大学无线理论与技术研究室	99	688	16.0	21.0
2	杨大成	北京邮电大学无线理论与技术研究室	249	1887	23.0	31.0
3	王静	北京邮电大学无线理论与技术研究室	13	109	4.0	10.0
4	郑瑞明	北京邮电大学无线理论与技术研究室	16	199	7.0	14.0