万能式断路器机构分闸回弹分析及改善

• 作者: 万里浩 许文良
• 来源期刊: 低压电器
• 学科: 工学
• 关键词: 万能式断路器 机构反弹 机构寿命
• 年，卷（期）: 2010,（19）
• 页码范围: 8-12
• 分类号: TM464
• 字数: 2472字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-5531.2010.19.003

摘要

描述了万能式断路器结构中可能引起的反弹现象,并使用高速摄影和仿真软件对设计进行优化,最终改善了机构的反弹,加快了分闸时间,提高了机构寿命和可靠性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	万里浩		28	25	3.0	3.0
2	许文良		11	35	4.0	5.0