阵列误差有源校正算法及其改进

• 作者: 吴瑛 王鼎
• 来源期刊: 中国科学(信息科学)
• 学科: 工学
• 关键词: 阵列校正 互耦 幅相误差 阵元位置误差 复对称带状Toeplitz矩阵 复对称循环矩阵 稀疏矩阵
• 年，卷（期）: 2010,（7）
• 页码范围: 976-994
• 页数: 19页
• 分类号: TN911.7
• 语种: 中文

摘要

阵列互耦、幅相误差以及阵元位置误差的综合影响会严重影响MU-SIC算法的测向性能.为此,该文主要研究了由这3种误差引起的阵列误差校正问题.该文在已有的阵列误差校正算法(算法1)的基础上,给出了一种基于互耦矩阵稀疏性的阵列误差校正算法(算法2)和一种利用互耦矩阵特殊结构的阵列误差校正算法(算法3).虽然3种算法具有相同的计算模式和理论框架,但后2种算法因利用了互耦矩阵的更多性质,从而提高了参数估计精度,而对于均匀线阵和均匀圆阵而言,算法3的优势更加明显.另一方面,文中还将上述3种算法推广应用于校正源方位存在偏差的情况,它们在校正阵列误差的同时,还可以补偿校正源的方位偏差.最后,分别在校正源方位无偏差和有偏差这两种情况下,通过仿真实验分析和比较了3种校正算法的参数估计性能.大量仿真实验表明,若能尽可能多地利用互耦矩阵的特殊性质,将十分有利于提高阵列误差的校正精度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王鼎	解放军信息工程大学信息工程学院	72	483	13.0	16.0
2	吴瑛	解放军信息工程大学信息工程学院	97	543	13.0	17.0