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基于汉明码的32位数据纠错电路设计
基于汉明码的32位数据纠错电路设计
作者:
张哲
张开锋
薛挺
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
单粒子翻转
汉明码
SRAM
FPGA
EDAC32
摘要:
空间应用计算机硬件系统的电子器件容易受到电磁场的辐射和重粒子的冲击,导致星载计算机中的数据特别是存储器中的数据出现小概率的错误,这种错误若不及时进行纠正,将会影响计算机系统的运行和关键数据的正确性.根据汉明码的纠错原理,可设计出一个用于32位SRAM存储器的数据纠错电路.该电路基于FPGA实现,具备检测2位错误并纠正1位错误的功能,有一定的实际应用意义.
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硬件语言
差错控制编码
扩展汉明码
FPGA
基于汉明码及闩锁检测电路的防辐射效应设计
防辐射设计
汉明码
闩锁检测电路
星上载荷
空间环境
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内容分析
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文献信息
篇名
基于汉明码的32位数据纠错电路设计
来源期刊
空间电子技术
学科
工学
关键词
单粒子翻转
汉明码
SRAM
FPGA
EDAC32
年,卷(期)
2010,(2)
所属期刊栏目
研究方向
页码范围
67-70
页数
分类号
TN1
字数
2345字
语种
中文
DOI
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
张哲
2
7
2.0
2.0
2
张开锋
5
38
2.0
5.0
3
薛挺
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研究主题发展历程
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单粒子翻转
汉明码
SRAM
FPGA
EDAC32
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
空间电子技术
主办单位:
西安空间无线电技术研究所
出版周期:
双月刊
ISSN:
1674-7135
CN:
61-1420/TN
开本:
大16开
出版地:
西安市165信箱
邮发代号:
创刊时间:
1971
语种:
chi
出版文献量(篇)
1737
总下载数(次)
9
总被引数(次)
6261
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