量子点探针测定痕量金属离子

• 作者: 张勇 李建华 李英
• 来源期刊: 化学工程师
• 学科: 化学
• 关键词: 量子点 痕量分析 荧光探针 金属离子
• 年，卷（期）: 2010,（11）
• 页码范围: 46-49
• 分类号: O657.3
• 字数: 3961字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-1124.2010.11.014

摘要

量子点是近几年发展起来的新型纳米材料.因其独特而优良的荧光特性,量子点成为了一种具有很大发展潜力的荧光探针.将量子点作为标记物的荧光分析法也成为国内外研究学者的研究热点.这种新型荧光分析法已经广泛地应用于生物科学、医学、分析化学等领域,并显示出极大的优越性.本文集中叙述了修饰剂对量子点的荧光性质的影响和量子点在分析检测痕量金属离子方面的应用,讨论了金属离子与量子点作用后荧光猝灭或荧光增强的可能的机理.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张勇	成都理工大学材料与化学化工学院	50	619	15.0	22.0
2	李英	成都理工大学材料与化学化工学院	4	16	2.0	4.0
3	李建华	成都理工大学材料与化学化工学院	4	16	2.0	4.0