一种确定被动式超高频RFID标签优选位置的方法

• 作者: 任禾 朱智源 赵健
• 来源期刊: 中国测试
• 学科: 工学
• 关键词: 电子技术 优选位置 自动测试 射频识别 读取率 标签
• 年，卷（期）: 2010,（3）
• 所属期刊栏目: 测控技术
• 页码范围: 66-69
• 分类号: TM931|TH816
• 字数: 2933字
• 语种: 中文

摘要

针对目前的RFID系统性能优化问题,提出了一种确定标签优选位置的测试方法,通过这种方式来优化被动式超高频RFID系统的应用性能.首先搭建了较为理想的测试环境,然后改变标签在货箱上的贴附位置,并对每-个贴附位置沿固定方向改变货箱与天线的相对距离,接着对每-个距离测试标签的读取率.通过这种实验方法,来研究标签不同的贴附位置的读取率随着货箱与天线之间距离的变化规律,进而得出一个确定RFID标签优选位置的一般性结论.该方法操作简单,实用性强,可以为RFID系统的优化提供指导性建议.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赵健	中国科学院自动化研究所综合信息系统研究中心	36	586	12.0	23.0
2	朱智源	中国科学院自动化研究所综合信息系统研究中心	2	3	1.0	1.0
3	任禾	中国科学院自动化研究所综合信息系统研究中心	1	3	1.0	1.0