烧结温度对PCrNi-4压电陶瓷性能的影响

• 作者: 孙兆海 徐东宇 谢士会 鞠超 黄世峰
• 来源期刊: 山东陶瓷
• 学科: 工学
• 关键词: 压电陶瓷 相结构 显微结构 压电性能 介电性能
• 年，卷（期）: 2010,（6）
• 页码范围: 3-6
• 分类号: TQ129|TQ174
• 字数: 2437字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-0639.2010.06.001

摘要

采用传统固相烧结法制备Pb0.94Sr0.06(Zr0.53Ti0.47)03+(Ni2O3+Cr2O3)0.1.wt%+x wt%CeO2(简称PCrNi-4)压电陶瓷,其中x取值为0,0.1,0.3和0.5,研究了烧结温度对陶瓷样品的相结构、显微结构、压电及介电性能.结果标明:所有样品相结构均为三方相与四方向共存.当烧结温度为1280℃,CeO2掺杂量为0.3 wt%时,陶瓷的晶粒大小均匀,致密性良好,具有良好的压电及介电性能(d33:375 pC/N,Kp=0.70115,εT33=1400,tgδ=0.00238).

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	鞠超	济南大学材料科学与工程学院	4	9	2.0	3.0
2	黄世峰	济南大学材料科学与工程学院	70	645	15.0	21.0
3	徐东宇	济南大学材料科学与工程学院	16	141	6.0	11.0
4	孙兆海		5	18	2.0	4.0
5	谢士会	济南大学材料科学与工程学院	1	0	0.0	0.0