分布式V-BLAST OFDM中存在多个频偏时的信号检测

• 作者: 唐友喜 邓凯
• 来源期刊: 电子科技大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 载波频偏 校正 信号检测 分布式发射天线 V-BLAST 迫零
• 年，卷（期）: 2010,（4）
• 页码范围: 513-516
• 分类号: TN914
• 字数: 3704字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-0548.2010.04.008

摘要

在采用分布式发射天线的垂直贝尔实验室分层空时结构(V-BLAST)正交频分复用(OFDM)系统中,由于各发射天线与接收机之间的载波频偏(CFO)均可能不同,因此必须在信号检测中考虑多个频偏的影响.该文利用迫零(ZF)检测的固有特性,提出一种适用于低时延扩展多径信道的低复杂度频偏校正方法;再针对其不足,结合传统频偏校正方法,提出了采用两次频偏校正的基于迫零的信号检测方法.仿真结果表明,在低时延扩展信道下,该文所提频偏校正方法能有效消除多个频偏对系统性能的影响;且在时延扩展较大时,采用两次频偏校正的信号检测方法能进一步改善系统性能.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	唐友喜	电子科技大学通信抗干扰技术国家级重点实验室	130	941	14.0	25.0
2	邓凯	电子科技大学通信抗干扰技术国家级重点实验室	13	17	3.0	4.0