微波连接器绝缘电阻的测试

• 作者: 刘宏
• 来源期刊: 电子质量
• 关键词: 连接器 侧试 侧试条件
• 年，卷（期）: 2010,（10）
• 页码范围: 69,79
• 分类号: TM503+.5
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0107.2010.10.023

摘要

本文介绍连接器绝缘电阻的测试,重点阐述如何确定其测试条件,以保证测试的准确性和一致性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘宏	中国电子科技集团公司第四十一研究所	58	385	9.0	18.0