圆片清洗过程中静电控制

• 作者: 丁荣峥 李云海 李欣燕 章文
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: 清洗 静电损伤 静电防护
• 年，卷（期）: 2010,（10）
• 页码范围: 28-30
• 分类号: TN305.94
• 字数: 2250字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1681-1070.2010.10.008

摘要

随着半导体技术的不断发展,对集成电路封装过程中的静电控制要求也越来越高.传统清洗机清洗圆片时,通常会产生大量的静电电压,可能引起芯片失效、损伤造成漏电流增大从而导致电路的损坏.如何降低清洗机清洗圆片时产生的静电电压,对减少封装过程中因ESD引起的芯片失效有着比较重要的意义.为此我们利用高压喷雾旋转清洗机针对圆片清洗这个步骤进行了一系列的试验.文中涉及控制清洗液的电阻率,并尝试改变清洗过程中的相关清洗条件,最终达到封装过程中要求的±200V的静电控制要求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	丁荣峥		12	100	5.0	9.0
2	李云海		4	16	3.0	4.0
3	李欣燕		2	9	2.0	2.0
4	章文		2	4	1.0	2.0