并联电容对正接法测量高压电气设备介质损耗值的影响分析

• 作者: 吴永恒
• 来源期刊: 绝缘材料
• 关键词: 介损 接触电阻 修正公式 等值电路
• 年，卷（期）: 2010,（6）
• 页码范围: 65-68
• 分类号: TM930.45|TM934.32
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-9239.2010.06.018

摘要

介质损耗试验时,传统做法和理论分析均采用正接法,因为正接法对并联在被试设备两端的电容有良好的屏蔽作用.但试验发现并联电容易造成介损值偏大.通过试验和理论分析发现,由于套管氧化层电阻的影响.如果在回路中串联了接触电阻,则并联在被试设备两端的电容就会对整个测量系统造成影响,且电容量在回路中占总电容量的比例越大,对介损值的影响也就越大.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴永恒		4	4	1.0	2.0