边界扫描技术在微处理器电路板测试与诊断的研究

• 作者: 张学锋 王国龙 王彤威
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: 处理器 边界扫描 测试与诊断 存储器测试
• 年，卷（期）: 2010,（6）
• 所属期刊栏目: 自动化测试
• 页码范围: 1250-1252
• 分类号: TP206
• 语种: 中文

摘要

针对某型指挥仪上含有处理器芯片、复杂可编程逻辑器件(CPLD)的1553B总线通讯模块的测试与诊断问题;通过对边界扫描测试技术和测试算法的研究,应用边界扫描技术,极大地改善了微处理器电路的测试覆盖率和定位精度;详细地阐述了微处理器电路的测试诊断方案、硬件设计方案、测试脚本开发等内容,该测试与诊断方法的研究同样适用于其他复杂板件的维修测试与诊断并提供了一个可以借鉴的实例,具有非常重要的实用价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张学锋		1	6	1.0	1.0
2	王彤威		11	43	4.0	6.0
3	王国龙		2	6	1.0	2.0