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摘要:
通过电子探针分析仪和微区X射线衍射仪的联合应用,对新疆某铍矿床的铍矿物存在形式进行研究,结果表明:电子探针背散射图像观察和X射线能谱定性分析确定铍矿物的电子探针鉴定标志:铍矿物的灰度比石英暗,X射线能谱图中仅显示Si和O元素的峰.且O元素的峰高大于Si元素的峰高.通过LDE3H分光晶体测试,该矿物在177.384 mm处存在明显的Be元素Kα谱峰.电子探针半定量分析结果显示,该矿物中Si和O元素的质量分数分别为21.93%和60.06%,与羟硅铍石的理论值[ω(Si):23.53%,ω(O):60.50%]相近.通过微区X射线衍射的分析,样品谱图与PDF卡片号为01-087-0669的羟硅铍石的谱图一致,最终确定该矿床的工业铍矿物为羟硅铍石.
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文献信息
篇名 新疆某铍矿床工业铍矿物的微区原位鉴定
来源期刊 矿物岩石 学科 地球科学
关键词 电子探针 背散射电子图像 微区X射线衍射 羟硅铍石 铍矿床
年,卷(期) 2010,(4) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 12-16
页数 分类号 P618.72|P575
字数 3776字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1001-6872.2010.04.003
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 范光 38 489 12.0 21.0
2 艾永亮 7 29 3.0 5.0
3 夏晨光 13 43 5.0 6.0
4 葛祥坤 15 96 6.0 9.0
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研究主题发展历程
节点文献
电子探针
背散射电子图像
微区X射线衍射
羟硅铍石
铍矿床
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矿物岩石
季刊
1001-6872
51-1143/TD
16开
成都市二仙桥东三路1号成都理工大学
62-22
1980
chi
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3
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