SE同轴测试装置中支撑介质的研究与设计

• 作者: 桑昱 赵吉祥 陆福敏 陈超婵
• 来源期刊: 中国测试
• 学科: 工学
• 关键词: 屏蔽效能 阶梯电容 回波损耗 支撑介质 阻抗匹配
• 年，卷（期）: 2010,（6）
• 页码范围: 1-4
• 分类号: TN813|TM930.5
• 字数: 2165字
• 语种: 中文

摘要

支撑介质常用于固定同轴线的内外导体,保持同心度.在遵循特性阻抗一致、不连续处引起的回波损耗最低以及机械加工误差对电性能影响最小3个方面的原则,通过对固定和支撑屏蔽效能同轴测试装置的支撑介质内外径尺寸、共面补偿厚度、机械加工公差范围的优化选择,重点研究了支撑介质引起的阶梯电容问题,较大程度上补偿了由于阶梯电容产生的回波损耗,最终使装置的回波损耗小于-32dB,满足测试要求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赵吉祥	中国计量学院电子信息技术研究所	29	163	7.0	11.0
2	陈超婵		3	63	3.0	3.0
6	桑昱		3	63	3.0	3.0
7	陆福敏		4	86	4.0	4.0