一种高可靠性可控硅的验证方法

• 作者: 刘杰 王普
• 来源期刊: 桂林理工大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 可控硅 小样本 可靠性 熵
• 年，卷（期）: 2010,（2）
• 页码范围: 305-307
• 分类号: TP202.1
• 字数: 2580字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1674-9057.2010.02.024

摘要

利用信息熵法,针对高可靠性可控硅产品设计了试验验证方法.通过试验,用较小的样本量验证了产品的可靠性,找到了目前导致洗衣机电脑面板故障、返修率升高的主要原因是可控硅的可靠性达不到指标要求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王普	北京工业大学电子信息与控制工程学院	206	1897	22.0	33.0
2	刘杰	北京工业大学电子信息与控制工程学院	15	92	5.0	9.0