几种功能电路的BIT测试方案设计及其仿真

• 作者: 褚丽丽 郭汉桥
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: 功能电路 BIT设计 仿真
• 年，卷（期）: 2010,（8）
• 页码范围: 14-16,20
• 分类号: TN407
• 字数: 1668字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1681-1070.2010.08.004

摘要

BIT技术是当今最重要的在线故障诊断技术之一,已经被广泛应用于航空电子设备中,在航空领域以外的应用虽然还比较少,但也已经起步.随着电子设备维修性要求的提高以及设备本身要求具备检测膈离故障的能力以缩短维修时间,BIT在测试领域研究中将越来越重要.功能电路BIT系统是电子设备整机BIT系统的重要组成部分,因此从解决实际问题出发,对几种典型的功能电路进行BIT策略方案设计,并使用Multisim软件对所设计的BIT监测电路进行仿真,仿真结果表明,所设计的BIT电路是可靠及有效的.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郭汉桥	清远职业技术学院机电工程学院	12	35	4.0	5.0
2	褚丽丽	清远职业技术学院机电工程学院	8	12	2.0	3.0