两均匀阵型在互耦影响下MUSIC算法的性能分析

• 作者: 吴瑛 李长胜 王鼎
• 来源期刊: 雷达科学与技术
• 学科: 工学
• 关键词: 测向 MUSIC算法 互耦 均匀线阵 均匀圆阵 复对称带状Toeplitz矩阵 复对称循环矩阵
• 年，卷（期）: 2010,（2）
• 所属期刊栏目: 信号/数据处理
• 页码范围: 163-170,176
• 分类号: TN911.7|TN957.51
• 字数: 8011字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-2337.2010.02.014

摘要

阵列互耦会影响MUSIC算法的测向性能,为此通过利用均匀线阵和均匀圆阵互耦矩阵的特殊结构,给出了两种均匀阵型在互耦影响下的MUSIC算法方位估计均方误差的表达式.虽然文中给出的两种一阶分析方法的思想分别来源于文献[4]和[5],但是这里考虑到了两种均匀阵型互耦矩阵的特殊性质,并从不同的角度分析了互耦扰动对两种均匀阵型的影响.此外,文中的结论还表明,在该文阵列误差模型的条件下,两种一阶分析方法可以得到相同的均方误差的表达式.最后,仿真实验验证了测量值与理论值具有较好的一致性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王鼎	解放军信息工程大学信息工程学院	72	483	13.0	16.0
2	李长胜	解放军信息工程大学理学院	10	57	5.0	7.0
3	吴瑛	解放军信息工程大学信息工程学院	97	543	13.0	17.0