梅特-托利多公司超越系列中文密度计／折光率仪

• 来源期刊: 实验与分析
• 学科: 工学
• 关键词: 折光率 密度计 中文 梅 触摸屏
• 年，卷（期）: 2010,（2）
• 页码范围: 52-52
• 页数: 1页
• 分类号: TH715.2

摘要

2010年3月，梅特勒－托利多新型超越系列中文密度计／折光率仪在中国正式上市。新的中文密度计和折光率仪包括5款主机：DM40、DM45 DeltaRange、DM50、RM40、RMS0和对应的5款模块：DX40、DX45 DeltaRange、DX50、RX40、RXS0。新仪器具有中文触摸屏操作简单，