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摘要:
近半个世纪以来,微波电路发展十分迅速,它经历了从低频到高频、从单层到多层的发展历程,最终导致了微波多芯片组件的产生.随着多芯片组件密度的不断提高,互连的不连续性成为制约整体性能的瓶颈.因此,对互连进行仿真和建模,对于微波多芯片组件的设计有着重要的意义.文章以MMIC芯片和介质基板的垂直互连结构作为研究对象,对不连续性结构的散射参数进行了软件仿真优化,并进行了装配、测试和结果分析.
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内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 新型微波毫米波单片三维垂直互连技术
来源期刊 电子与封装 学科 工学
关键词 多芯片组件 封装 垂直通孔互连
年,卷(期) 2010,(10) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 1-4
页数 分类号 TN305.94
字数 3472字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1681-1070.2010.10.001
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 郑文谦 1 3 1.0 1.0
2 沈亚 7 5 2.0 2.0
传播情况
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引文网络
引文网络
二级参考文献  (3)
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研究主题发展历程
节点文献
多芯片组件
封装
垂直通孔互连
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子与封装
月刊
1681-1070
32-1709/TN
大16开
江苏无锡市惠河路5号(208信箱)
2002
chi
出版文献量(篇)
3006
总下载数(次)
24
总被引数(次)
9543
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