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电子产品可靠性与环境试验期刊
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分布函数的迫近及其在高可靠性评估中的应用
分布函数的迫近及其在高可靠性评估中的应用
作者:
宫二玲
张金槐
谢红卫
原文服务方:
电子产品可靠性与环境试验
函数迫近
正交多项式
可靠性评估
指数寿命
摘要:
针对高可靠性评估中存在的精度及计算量问题,首先给出了可靠性分布函数的正交多项式序列迫近方法.然后,利用此方法,对并联的指数寿命型系统的可靠性函数进行迫近,所获得的结果易以计算,且具有较高的精度.
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文献信息
篇名
分布函数的迫近及其在高可靠性评估中的应用
来源期刊
电子产品可靠性与环境试验
学科
关键词
函数迫近
正交多项式
可靠性评估
指数寿命
年,卷(期)
2010,(3)
所属期刊栏目
可靠性与环境适应性理论研究
研究方向
页码范围
11-14
页数
分类号
TB112
字数
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1672-5468.2010.03.003
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
谢红卫
国防科技大学机电工程与自动化学院
40
402
11.0
19.0
2
张金槐
国防科技大学机电工程与自动化学院
28
395
13.0
19.0
3
宫二玲
国防科技大学机电工程与自动化学院
20
184
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函数迫近
正交多项式
可靠性评估
指数寿命
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
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相关学者/机构
期刊影响力
电子产品可靠性与环境试验
主办单位:
工业和信息化部电子第五研究所(中国电子产品可靠性与环境试验研究所)
出版周期:
双月刊
ISSN:
1672-5468
CN:
44-1412/TN
开本:
大16开
出版地:
广州市增城区朱村街朱村大道西78号
邮发代号:
创刊时间:
1962-01-01
语种:
中文
出版文献量(篇)
2803
总下载数(次)
0
总被引数(次)
9369
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