基于光反射鉴别技术的回波损耗测量

• 作者: 张昆
• 来源期刊: 电子质量
• 关键词: 光回波损耗 光反射鉴别技术
• 年，卷（期）: 2010,（5）
• 所属期刊栏目: 测试测量技术
• 页码范围: 16-17
• 分类号: TB96
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0107.2010.05.006

摘要

针对大量光纤器件的回波损耗实际测量需求,提出了基于光反射鉴别技术的解决方案及其系统组成.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张昆	中国电子科技集团公司第41研究所电子测试技术国家重点试验室	6	3	1.0	1.0