通信泄漏同轴电缆参数的优化及性能研究

• 作者: 吴飞英 官伯然
• 来源期刊: 微波学报
• 学科: 工学
• 关键词: 泄漏电缆 遗传算法 耦合损耗
• 年，卷（期）: 2010,（1）
• 所属期刊栏目: 学术论文与技术报告
• 页码范围: 76-80
• 分类号: TN91
• 语种: 中文

摘要

研究了遗传算法对通信泄漏同轴电缆进行结构参数优化的方法,分析了漏缆的耦合损耗,并将仿真结果与理论计算结果进行了对照.文中对T作频率为800MHz的周期开槽漏缆进行了优化,使其95%置信度耦合损耗达到70dB,电压驻波比达到1.1.在此基础上比较了在自由空间和靠近理想导体时漏缆的辐射场,分析了置于金属壁附近时导电壁对漏缆耦合损耗的影响.文中研究结果对泄漏同轴电缆的设计和应用有一定参考价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	官伯然	杭州电子科技大学天线与微波技术研究所	76	357	10.0	15.0
2	吴飞英	杭州电子科技大学天线与微波技术研究所	1	10	1.0	1.0