嵌入式软硬件系统的可靠性设计

• 作者: 刘志宏 张明 方伟奇
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 嵌入式系统 软硬件 可靠性设计
• 年，卷（期）: 2010,（5）
• 页码范围: 45-49
• 分类号: TP302.7
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2010.05.011

摘要

以工程实践中所做的嵌入式软硬件系统可靠性设计为依据,论述了可靠性设计过程中的依据、指标分配以及设计方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张明		23	50	5.0	6.0
2	刘志宏		20	183	6.0	13.0
3	方伟奇		4	22	4.0	4.0