CCD组件参数综合测试系统应用研究

• 作者: 刘海欧 赵亮
• 来源期刊: 光电技术应用
• 学科: 工学
• 关键词: CCD组件 测试 参数
• 年，卷（期）: 2010,（6）
• 页码范围: 5-7
• 分类号: TN206
• 字数: 2282字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-1255.2010.06.002

摘要

CCD组件参数综合测试系统配备了PCI高速数字图像采集卡获取测试数据,显示测试图像.分析了各参数的综合测试方法与原理,优化的结构设计保证了一台仪器就能够对帧频、饱和输出幅值、均方根噪声等多种性能参量测试.利用统计学的方法对多次测试结果进行了误差分析.试验表明,测试系统具有测试过程自动快速及测试数据准确稳定的优点.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赵亮		2	4	2.0	2.0
2	刘海欧		3	5	2.0	2.0