采用MIMO MRC的DE-QPSK性能分析

• 作者: 夏婷 李光球
• 来源期刊: 杭州电子科技大学学报（自然科学版）
• 关键词: 最大比合并 多输入多输出系统 瑞利衰落 差分编码四相相移键控 误符号率
• 年，卷（期）: 2010,（5）
• 页码范围: 105-108
• 分类号: TN911.3
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-9146.2010.05.027

摘要

该文研究了瑞利衰落信道上多输入多输出最大比合并系统的误码性能.利用高斯Q函数的高次幂在衰落信道上的统计平均结果,推导了瑞利衰落信道上相干检测差分编码四相相移键控的平均误符号率的精确闭合表达式.仿真结果验证了理论分析的正确性.数值计算结果表明:当收发天线数之和固定时,两端天线配置越均衡,MIMO MRC系统的误符号性能越好;当收发天线数之积固定时,收发天线总数越大,MIMO MRC系统的误符号性能愈好.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李光球	杭州电子科技大学通信工程学院	77	169	7.0	10.0
2	夏婷	杭州电子科技大学通信工程学院	1	0	0.0	0.0