基于响应面分析的RFID应用部署测试优化设计

• 作者: 刘禹 杨一平 王庆林
• 来源期刊: 电子器件
• 学科: 工学
• 关键词: 射频识别(RFID) 应用部署 试验设计方法 正交试验设计 响应面分析
• 年，卷（期）: 2010,（6）
• 页码范围: 746-751
• 分类号: TP206
• 字数: 4793字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-9490.2010.06.023

摘要

RFID技术近年来取得快速发展,成为物联网的关键技术之一.利用试验设计方法对RFID应用部署测试进行了优化,借助正交试验设计方法在多因子多水平的条件下迅速制定测试计划,了解组合测试中多因子对测试结果影响的主次因素和规律,有效地解决组合爆炸问题.还通过多元线性回归分析和最小二乘估计建立响应面方程拟合多个自变量与因变量之间的关系,分别通过正交试验、零水平点拟合试验和最速上升试验快速获得优化方案,从而为在复杂环境条件下提高RFID系统性能,预测部署效果,优化部署条件提供可靠的保证.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘禹	中国科学院自动化研究所	53	981	19.0	31.0
2	王庆林	北京理工大学自动化学院	62	697	14.0	23.0
3	杨一平	中国科学院自动化研究所	21	151	7.0	11.0