标准漫反射板绝对反射比因子测量装置

• 作者: 张黎明 盛建军
• 来源期刊: 光学精密工程
• 学科: 物理学
• 关键词: 辐射定标 辐射亮度 辐射照度 绝对反射比因子 漫反射参考板
• 年，卷（期）: 2010,（7）
• 页码范围: 1498-1503
• 分类号: O432
• 字数: 3728字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/OPE.20101807.1498

摘要

分析和研究了测量绝对反射比因子的原理,设计、制作了一套可以测量光源入射照度和反射辐亮度的比辐射计和一套45°/0°漫反射板绝对反射比因子测量装置.首先,使用比辐射计测量光源的入射照度和反射辐亮度,给出漫反射板绝对反射比因子的计算公式;然后,根据推导公式中辐射亮度由测量比辐射计的光阑面积决定,提出一种新的光学方法来精确测量光阑面积,从而提高测量精度.最后,介绍了测量装置的设计和其它部件的制作过程.采用该装置实验测量了安徽光学精密机械研究所研制的标准漫反射板在633～960 nm的绝对反射比因子,得到的装置的测量不确定度为0.19%.实验结果表明,该测量装置测量方法简单、精度高,可以满足反射比因子的测量要求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张黎明	中国科学院安徽光学精密机械研究所	45	347	11.0	18.0
2	盛建军	合肥学院数学与物理系	2	15	2.0	2.0