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摘要:
通过制备非对称结构SOI脊型波导,设计并优化得到一个偏振相关损耗标准样品,通过与标准单模光纤耦合封装,实现了偏振相关损耗测试仪表的快速校准.该器件偏振相关损耗值为0.58dB,测量重复性相对标准差为0.02,测量不确定度为0.2dB.
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文献信息
篇名 SOI材料非对称脊型波导结构PDL标准样品研究
来源期刊 光学技术 学科 工学
关键词 脊型波导 偏振相关损耗 SOI材料
年,卷(期) 2010,(5) 所属期刊栏目 导波光学
研究方向 页码范围 733-735
页数 分类号 TN252
字数 1134字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 李健 中国计量科学研究院光学所 13 49 3.0 7.0
2 安俊明 中国计量科学研究院光学所 1 0 0.0 0.0
3 徐楠 中国计量科学研究院光学所 6 4 2.0 2.0
4 张志新 中国计量科学研究院光学所 2 16 1.0 2.0
5 李建威 中国计量科学研究院光学所 4 2 1.0 1.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
脊型波导
偏振相关损耗
SOI材料
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
光学技术
双月刊
1002-1582
11-1879/O4
大16开
北京市海淀区中关村南大街5号
2-830
1975
chi
出版文献量(篇)
4591
总下载数(次)
6
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