X射线荧光分析原级能谱分布的MCNP模拟

• 作者: 谈春明
• 来源期刊: 原子能科学技术
• 关键词: X射线荧光分析 蒙特卡罗方法 MCNP 能谱分布
• 年，卷（期）: 2010,（z1）
• 页码范围: 496-499
• 分类号: O434.13
• 语种: 中文

摘要

X射线荧光分析中,入射激发能谱是影响元素特征荧光强度大小的直接因素.本文使用MCNP程序模拟不同条件下电子打靶后的X射线能谱分布,计算结果能够反映不同条件下特征谱线和连续谱线的特点.模拟能谱数据可用于X射线荧光分析的数据处理.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	谈春明	清华大学核能与新能源技术研究院	24	52	5.0	6.0