6D+2P磁盘阵列校验技术研究

• 作者: 刘晓东 董唯元 陈华英
• 来源期刊: 电子科技大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 阵列处理 网络存储 冗余 恢复 磁盘阵列
• 年，卷（期）: 2010,（2）
• 所属期刊栏目: 计算机工程与应用
• 页码范围: 251-254,259
• 页数: 5页
• 分类号: TP333
• 字数: 3621字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-0548.2010.02.021

摘要

通过对磁盘阵列的4种主要校验技术进行深入的分析与研究,提出基于6D+2P的Reed-Solomon编码校验技术,并对基于不同校验技术的磁盘阵列的空间利用率和读写性能进行了比较分析.得出磁盘阵列的各校验技术依据一定的原理进行磁盘阵列的校验冗余与校验恢复,但相互之间仍有共性,如果采用基于6D+2P的磁盘阵列校验技术磁盘阵列的使用率将达到85%,其研究有助于磁盘阵列校验技术的完善与改进.